半導體先進製程下 設備/材料供應商要求趨勢
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半導體先進製程發展持續升溫,相關封裝、材料及設備需求也跟著水漲船高。為因應先進製程技術發展趨勢,半導體業者紛紛祭出新型機台、設備或化學材料解決方案,借以強化自身競爭優勢,並搶占龐大的先進製程需求大餅。
2016年Semicon Taiwan展的攤位數量達一千六百個攤位,預估參觀人數則上看4.3萬人,展會規模將創曆年之最。從本次Semicon Taiwan展會盛況可看出,整體而言,半導體產業未來仍具有相當大的發展潛力,特別是10奈米以下先進製程,更是推動半導體材料、設備需求的關鍵因素。為滿足先進製程技術研發需求,半導體業者無不積極推出各式創新產品及解決方案,搶占市場商機。
扇出封裝技術向下滲透有譜
扇出封裝技術(Fan-out)依舊為本屆Semicon Taiwan展的焦點。扇出封裝具備超薄、高I/O腳數等優勢,是行動應用處理器非常理想的封裝技術選擇,但其成本較高也是不爭的事實。所幸終端產品追求輕薄短小與多功能整合的趨勢幾乎擴散到電子業內的每個次領域,未來係統封裝(SiP)可望成為扇出技術向下滲透的開路先鋒。
矽品工程中心資深處長藍章益表示,目前半導體產品的應用有四大熱門領域,分別是網絡通訊、智慧型手機、物聯網/穿戴式裝置與汽車電子。就IC芯片封裝的角度來看,除了網絡通訊以及汽車動力總成(Powertrain)相關芯片有其特殊需求,在可預見的未來還會走自己的路之外,鎖定其他應用領域的芯片都跟手機芯片越來越像。
整體來說,半導體產業的趨勢一直是芯片越做越小,但性能跟功能卻要不斷增加。
從封裝的角度來看,這其實是有矛盾的,因為芯片麵積縮小後,能夠放置I/O的麵積也會跟著縮小,但更強的運算效能與多功能整合,卻會增加I/O的數量。因此,封裝技術勢必會遇到I/O密度難以進一步提升的瓶頸,而扇出技術就是解決這個問題的方法。
不過,目前最新的扇出封裝技術不隻是I/O擴展而已,同時還以高分子聚合物薄膜來取代傳統IC封裝基板,使封裝厚度大幅降低。因此,精確地說,目前業界討論最熱烈的扇出封裝,應該稱為模塑化合物晶圓級芯片封裝(Mold Compound WLCSP, mWLCSP),其裸晶跟聚合物薄膜外麵會有一層黑膠體來保護脆弱的內層結構。
藍章益指出,為了減少封裝厚度而改用高分子聚合物薄膜,對芯片封裝製程來說造成很大的挑戰,因為裸晶在封裝前都會經過研磨,已經相當柔軟而脆弱,高分子聚合物薄膜本身又容易翹曲變形,因此可靠度構成相當大的挑戰。不過,目前業界已經找到合適的材料與加工方法,可以確保封裝可靠度,還可以進一步在薄膜上嵌入被動元件,實現更高的整合度。
整體來說,扇出技術的進展會對整個半導體供應鏈造成相當大的影響。首當其衝的就是IC載板廠商,因為扇出技術已經不用傳統IC載板了;其次則是被動元件業者,為了滿足嵌入封裝內的需求,相關業者必須進一步把被動元件縮小到微米尺度,而且還要具備足夠的容值/阻值,這部分料將牽涉到被動元件材料的研發及突破。
由於導入大量新技術跟新材料,扇出封裝雖然有更輕薄短小、可支援更高I/O數量等優勢,但成本也會跟著墊高。因此,高階、高單價,需要大量I/O的芯片,較有機會優先采用扇出封裝,例如應用處理器。
然而,對專業封裝廠來說,這種機會大多會被晶圓代工廠捷足先登,因此相關業者必須要找出其他具有發展潛力的應用,才能開拓自家的扇出封裝業務。而其中最有潛力的就是SiP應用。
藍章益分析,SiP是高度客製化的封裝產品,利潤空間較高,因此對封裝廠來說,針對SiP客戶推廣扇出封裝業務,投資回收的速度會比較快。另一方麵,SiP封裝采用扇出技術,能夠為客戶帶來的效益也更明顯,例如封裝厚度大幅縮減。
因此,SiP對專業封測廠來說,是發展扇出封裝業務項目的主要機會所在。這類產品的單價雖不如高階處理器,但仍有數美元水準,而且客戶也比較容易看到扇出技術所能帶來的效益,接受度較高。目前矽品已經有扇出SiP專案正在進行中,預計2017年將能開花結果。
SiP封裝日益複雜機台設計學問大
承上所述,電子零件微型化與低價化是整個產業持續發展的趨勢。為了在更小、更薄的封裝尺寸內整合更多功能,封裝設備商必須提供更高精度的解決方案給客戶,同時還必須設法幫客戶提高生產效率,以降低成本。
Kulicke&Soffa(K&S)先進封裝事業部門資深產品行銷經理Patrick Huberts表示,封裝尺寸的微型化是整個封裝產業持續麵臨的挑戰。因此,係統封裝(SiP)技術在過去幾年已經有非常明顯的進展,利用嵌入式被動元件(Embedded Passive)技術把被動元件跟裸晶(Die)整合在同一顆芯片封裝內的案例可說比比皆是。
但封裝業者並未就此停下腳步,隨著扇出型晶圓級封裝(FO-WLP)技術取得重大進展,未來芯片封裝將不會再使用傳統芯片載板,以便進一步縮小芯片封裝的厚度。
不過,隨著封裝厚度越來越薄,許多物理上的問題也跟著開始出現。從封裝機台的角度來看,其所處理的被動元件、裸晶等元件的厚度隻會越來越薄,同時也變得更加脆弱,在取放時的力道控製必須非常小心,否則元件會因為外力衝擊而受損。據統計,在封裝過程中導致元件損毀的頭號殺手,就是元件取放的力道控製不當,而且有時候這個問題不會立刻浮現,要等到芯片封裝進入更後段製程時,才會慢慢被察覺出來。
除了元件變得更薄、更脆弱之外,元件的尺寸也變得越來越小,使得機台在處理這些元件時,必須具備更高的精度。舉例來說,未來的嵌入式被動元件尺寸將縮小成0201m,相當於0.25×0.125mm。
上述兩大發展趨勢對機台的設計是很大的考驗,一來元件必須小心翼翼地取放,機械手臂的動作速度不能太快,但又必須設法兼顧機台的吞吐量,否則會拖累生產效率,增加封裝業者的生產成本。
為了同時滿足小心取放與高速量產的需求,K&S除了運動控製方麵下了許多功夫,以便將取放元件的力道控製壓低到0.3牛頓(N),並把貼裝精度提高到7微米以下外,還采用平行處理與模組化的概念來開發下一代機台。
滿足創新設計旋塗式介電材料受青睞
半導體芯片越做越小,性能跟功能需求不斷增加,因應此一趨勢,除封裝技術須持續精進之外,新材料的需求也日與遽增。默克全球IC材料事業處資深副總裁Rico Wiedenbruch表示,晶體管尺寸不斷縮小,使得芯片的效能與功耗得以持續改善,同時也讓芯片設計者可以在單一芯片上不斷添加更多功能。不過,晶體管越做越小,也帶來新的技術挑戰,例如填隙與絕緣,就是許多半導體業者所麵臨的主要挑戰,且往往要靠材料技術的創新才能突破。
為此,近年來默克持續加碼布局半導體材料市場,並陸續推出一係列完整的半導體製程材料解決方案,以協助半導體業者克服晶體管微縮的技術挑戰。其中,旋塗式介電材料因具備許多優異的特性,因此推出後已廣獲邏輯、記憶體等芯片製造商采用。
旋塗式介電材料(Spin on dielectric, SOD)擁有絕佳的填洞能力及局部平坦化效果,其所形成的薄膜也具備更好的特性。該材料可填進很微小的空隙裏,並且能在空隙中形成極薄的絕緣層,不但可提供客戶更廣的製程操作範圍,還可以為客戶帶來降低設備成本的優勢。
除了旋塗式介電材料外,默克還針對其他半導體製程需求開發出專用解決方案,協助顧客麵對挑戰。其IC材料事業處的其他IC材料產品還包括頂部抗反射材料(TARC)、防塌濕潤劑(Rinse)、方向性排列材料(Directed Self Assembly, DSA)、沉積材料(Atomic LayerDeposition, ALD)、導電膠(Conductive Paste)等。
先進製程淨化需求增新型清潔溶液亮相
隨著現今半導體先進製程愈加複雜,其清潔度、可靠度要求也越來越嚴苛,特別是在10奈米以下先進製程,更是帶動過濾、淨化市場需求增加。
看好此一商機,英特格(Entegris)宣布推出適用於半導體製程的新型後化學機械研磨(post-CMP)清潔溶液--PlanarClean AG,此係列產品是專為10奈米以下製程所設計,滿足先進製程晶圓清洗需求,且不會損壞高階薄膜或新材料。
Entegris總裁兼執行長Bertrand Loy指出,先進製程帶動高效淨化解決方案需求增加,該公司推出新型post-CMP清潔溶液,提供更優質的服務。
Entegris總裁兼執行長Bertrand Loy(圖4)表示,半導體製程日益複雜,尺寸也愈來愈小,隻要出現任何微小雜質,即便隻是一粒灰塵,都可以將產品毀掉。因此,晶圓廠必須導入效能更強的過濾、淨化產品,確保半導體晶圓不受汙染,才能提升生產良率。
據悉,在先進高階製程的清潔步驟當中,外露薄膜及材料的數量和類型改變,更凸顯出特調清潔溶液的必要性。此外,研磨液顆粒的改變使得許多傳統的post-CMP清潔溶液在用於先進製程時,顯得效率低落或毫無效果,尤其以前端製程(FEOL)最為明顯。這些難題促使半導體製造商開始選擇經過特別調配的清潔溶液,舍棄一般標準型清潔溶液。
PlanarClean AG調配溶液符合這些需求,在銅、鈷和鎢等高階製程中展現一步到位的優異清潔效果,還能保護底層的薄膜和物質。專利配方有助於提升可靠度和產量、達到零腐蝕及零汙染。此外,該溶液也能減少清潔步驟所需的化學品用量,進而發揮降低成本的優勢。目前該溶液已經量產上市,並獲得多家半導體廠采用。
Loy進一步指出,半導體先進製程致力提升芯片性能及縮小體積,除可靠設計方式實現之外,另一種方式便是選用全新的材料,如三五族化合物。此外,目前元素周期表中,已有超過四十五種元素應用在半導體製程,比過去大幅增加。因此,半導體製程采用新材料,顯然是產業發展趨勢,對於英特格這類材料供應商而言,市場成長空間也越來越大。
半導體廠設備投資飆高氣體安全監測更形重要
另一方麵,半導體製程日漸精密,連帶使得晶圓廠的軟硬體投資金額連年飆高,廠房安全監控的重要性也與日俱增。為了進一步保障廠區作業人員與設備的安全,漢威聯合(Honeywell)推出一係列在半導體產業創新的安全檢測和個人防護一體化解決方案,可有效協助半導體廠房進行安全監測,並強化企業整體風險管控能力。
Honeywell探測器產品事業處台灣區總經理彭寶展表示,隨著半導體製程不斷微縮,先進製程所使用的化學氣體強度越來越強,甚至導入新氣體。然而,半導體製程所使用的氣體中,有許多有毒或高易燃性的危險氣體,須嚴密監測方可確保作業人員健康,並協助半導體廠強化風險控管,降低生命財產發生意外損失的風險。
半導體產業安全檢測及個人防護解決方案更注重設備的穩定、可靠、精確,因為一旦發生安全事故,將給半導體產業帶來無法彌補的人員安全傷害及財產損失,特別是在先進製程設備越來越昂貴的情況下,廠區一旦發生事故,將造成更大的損失。
為滿足精確度越來越高的氣體偵測需求,漢威聯合為半導體產業日常生產環境、晶圓生產區域、實驗室等場所設計固定式氣體監控係統。如最新升級版的ACM150Plus傅立葉紅外線(FTIR)光譜氣體監測儀,可檢測多達六十個點,檢測距離達230公尺,與舊版本相比提供更多采樣點,單點成本更低。
彭寶展指出,一般氣體偵測器若不夠精準,除無法正確偵測出現場氣體變化之外,有時還會發生誤警報的情況。為提升氣體偵測的準確度,ACM150Plus傅立葉紅外線光譜氣體監測儀采用光譜辦別技術。每種氣體都有其特定的光譜特性,就像指紋一樣,因此這款監測儀的氣體偵測準確性相對較高,也不會出現誤判或是發出錯誤警報。
除傅立葉紅外線光譜氣體監測儀外,漢威聯合還具備Vertex化學紙帶氣體監測儀,可進行ppb(十億分之一)級別氣體檢測,當有氣體泄漏時,紙帶便會變色。
檢測點多達七十二個,為用戶提供更豐富的布點選擇,從而進行更有效的監測;而該產品紙帶材料及監測儀上的光學讀取頭,都是漢威聯合的獨有材料和技術,競爭對手難以研發出性質相似的產品,使該公司在激烈的市場競爭之中,具備一定的優勢。
前後段聯手3D化摩爾定律還有好戲唱
小體積高性能的芯片已成必然發展趨勢,也使得屹立已久的摩爾定律還能走多遠,近年來一直雜音不斷。但台灣半導體產業協會理事長盧超群認為,在前段晶體管製程進入3D世代,加上後段封裝堆疊技術迭有突破的情況下,晶體管閘極線寬即便無法越做越小,單位麵積內的晶體管密度還是可以持續成長,功能整合的腳步也不會停歇。
盧超群指出,近年來摩爾定律能否在合乎投資報酬率的前提下繼續發展,一直是半導體業界非常關注的話題。雖然唱衰摩爾定律的聲音不斷,但是台灣的半導體業者非常努力,在前後段製程都有重大突破,因此摩爾定律將有機會以另一種形式繼續走下去。
盧超群指出,在平麵晶體管時代,為了實現摩爾定律,每一個新世代的閘極線寬原則上會是前一代的0.7倍。但在3D晶體管世代,線寬微縮的程度可以大幅放緩,一樣能達成晶體管密度倍增的 目標。事實上,在幾個月後的亞洲固態電路研討會(ASSCC)上,他將發表一篇論文,預估在3D晶體管世代,每一代製程的線寬微縮係數大概隻要在0.85~0.93之間,單位麵積的晶體管密度就有機會翻倍。
除了前段晶體管製程外,後段芯片封裝技術也迭有突破,為芯片功能整合添加新的動能。包含多芯片封裝(MCP)、係統封裝(SiP)與晶圓級整合式扇出封裝(InFO WLP)等封裝技術,都具備在單一芯片封裝內實現高度異質整合的能力,讓芯片在體積不變的情況下,具備更多元的功能。
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